哈工大主办第三届显微仪器技术国际高层论坛 国内外著名专家学者共同探讨显微技术发展前沿

时间:2023-09-16浏览:155

哈工大全媒体(刘培香 王伟波/文 王伟波/图)9月8日至10日,由中国工程院和中国仪器仪表学会指导、哈工大主办、中国仪器仪表学会显微仪器分会等联合承办的第三届显微仪器技术国际高层论坛(International Forum on Microscopy,IFM2023)在广东中山举行。中国仪器仪表学会副理事长、我校谭久彬院士担任大会主席并主持会议。

论坛分为主论坛大会报告、分论坛研讨和圆桌论坛。来自15个国家和地区的230余名代表参加论坛。包括诺贝尔奖获得者、院士等在内的国际著名专家作大会报告,深入探讨了显微技术发展的前沿问题与主要发展趋势。

分论坛设立10个分会场,举办68场邀请报告。与会专家学者围绕显微仪器技术各个分支方向的重大研究进展与突破、目前存在的重大科学问题与关键技术问题、具有发展优势的新技术路线等进行了深入交流,探讨了因学科交叉衍生出的新原理、新技术和新方向,并对该领域未来10年的发展趋势与特点、新的应用背景和可能产生的新突破进行了探索与研判。

论坛还以圆桌论坛形式进行了战略研讨,由谭久彬院士主持。显微仪器领域著名专家学者及企业代表100余人参加圆桌论坛,聚焦显微仪器科学与工程科技发展战略和仪器产业发展战略,就显微仪器的测量体系与标准、创新链与产业链构建、产业政策需求、产业生态环境营建等目前中国显微仪器领域面临的问题进行了深入探讨,并达成了初步共识。

谭久彬院士主持圆桌论坛




责任编辑:刘培香

审核:宋玲 张妍